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Chroma最新一代7505-01多功能光学检测系统能实现在一设备上同时具备1D、2D、3D的量测能力。
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7505至01 700mm x 900mm多功能光学检测系统|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
7505-01 多功能光学检测系统
700mm x 900mm
产品简介
Chroma最新一代7505-01多功能光学检测系统能实现在一设备上同时具备1D、2D、3D的量测能力。 1D膜厚量测功能，利用穿透反射式量测，可对透明半透明的材料进行非破坏性膜厚量测。 2D量测搭载高分辨率线型扫瞄相机，搭配电脑精密控制的平台进行水平扫描，量测范围可达到700mm x 900mm的范围，同时载台具备真空吸附能力，针对软性被测物如触控面板、电子纸及AMOLED等软性显示器等可以平整的被吸附形成一个平整的平面。 本系统可适合于各种需要进行微奈米等级量测并同时需要量测大范围的应用。 2D瑕疵量测，可检出气泡、刮伤、异物等瑕疵，并可透过三维量测功能进一步对二维瑕疵进行高度或深度的分析，同时具备2D及3D瑕疵分析的功能，能解决传统二 维检测无法量测高度或深度的缺点。
Chroma 7505-01能提供微奈米等级1D、2D、3D多功能的量测能力，也针对面板级先进封装之应用：TSV/VIA, RDL, Probe Mark, Surface Topography等等，提供专属之演算法 和UI，并同时满足各项产业及研究单位之需求，是您提升效率及节省成本的选择。
产品功能与优势
主要特点
• 提供面板级先进封装制程量测：TSV/VIA, RDL, Probe Mark, Surface Topography...等
• 一机具备1D、2D、3D量测能力
• 具备膜厚量测功能(1D)，使用穿透反射式量测，可进行非破坏式膜厚量测
• 使用高分辨率线型扫瞄相机，可进行高速2D瑕疵量测，可检出气泡、刮伤、异物等瑕疵
• 使用白光干涉量测技术，可进行3D三维形貌量测，如断差高度、夹角、面积、体积、粗度、起伏、薄膜厚度及平整度
• 量测范围可涵盖约700mm x 900mm (可依需求提供更小尺寸)
• 友善的人机接口，简单的图形化控制系统及3D图形显示
• 自动化快速自我校正能力，确认系统量测能力
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 7505-01 叙述 多功能光学检测系统
资源下载
• 7505-01 详细指标见 7505-01 详细指标页。
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
7505-01 详细指标
700mm x 900mm
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
7505-01
• 叙述：多功能光学检测系统
资源下载
• 7505-01 产品介绍见 7505-01 产品介绍页。
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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邮箱：info@chromaate.com
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