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为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
同厂商产品
ST2516/ST2532 是高速率系列数模混合信号测试系统，可以实现 32至320 个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500E 是高密度数模混合信号测试系统，该系统一个机箱最高支持 16 块板卡，数字 IO 通道数最高支持 512 通道。槽位兼容 ST2500 系列的功能板卡。同时该系统拥有 250Mbps 的测试速率，具有极高的成本优势。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500A 是基于 ST2500 系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源（DFB32、SMU20、FOVI50、OTMU、CBIT），可以满足各类数模混合高并行测试需求。
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ST2500EX 1024通道数模混合信号测试系统 250Mbps至500Mbps|加速科技 (在产)
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产品描述
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系统与解决方案
加速科技 Speedcury
高性能数模混合信号测试系统 ST2500EX
支持 1024 数字通道、250Mbps 与 500Mbps 数据速率的高性能数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2500EX 是高性能数模混合信号测试系统，支持 1024 数字通道配置。系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式，可以兼容 J Type 针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX 还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案。
ST2500EX 高性能数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
核心参数
• 数字通道：支持 1024 数字通道配置
• 数据速率：250Mbps / 500Mbps
• 板卡容量：单机头最高可配置 32 块板卡，用户可根据测试需求灵活配置
• 连接方式：Direct Docking / Cable Mount，兼容 J Type 针卡，降低转平台治具成本
• 配套治具：提供配套公用 loadboard，缩短客户产品硬件开发周期
• 可扩展性：可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案
• 开发软件：ST-IDE 软件，提供 AWG、DGT、Pattern、LA 等开发和调试工具
• 图形转换：配套 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换工具，同时支持友商平台 pattern 转换
• 量产与运维：工厂专用 GUI 与数据记录分析工具；智能软硬件监控系统提供故障代码定位
产品关键特性
• 系统支持 250Mbps / 500Mbps 数据速率
• 单机头最高可配置 32 块板卡，用户可以根据测试需求灵活配置板卡
• 可以兼容 J Type 针卡，降低客户转平台治具成本
• 提供配套公用 loadboard，可以缩短客户产品硬件开发周期
• 系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式，增加晶圆测试稳定性
• 系统集成 ST-IDE 软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具（AWG、DGT、Pattern、LA 等），降低产品开发调试到量产交付生产周期
• 配套丰富的 pattern 转换工具，方便 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern，同时支持友商平台 pattern 转换，有效提高调试效率
• 针对工厂量产提供专门 GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
• 智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
型号与配置
• 板卡配置：单机头最高 32 块板卡，按测试需求灵活配置
• 连接方式：Direct Docking / Cable Mount
典型应用场景
• SoC/MCU 芯片测试
• FLASH、EEPROM 存储器件测试
• CIS 图像传感器测试
• AIoT 模组测试
• LED Driver 驱动芯片测试
• FPGA 测试
• Sensor 传感器测试
资源下载
以上内容与指标摘自加速科技官网该产品详情页；若与随机文件不一致，以随箱文件为准。
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加速科技 Speedcury
高性能数模混合信号测试系统 ST2500EX 详细指标
支持 1024 数字通道、250Mbps 与 500Mbps 数据速率的高性能数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2500EX 是高性能数模混合信号测试系统，支持 1024 数字通道配置。系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式，可以兼容 J Type 针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX 还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案。
ST2500EX 高性能数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
技术指标
通道与速率
• 数字通道：支持 1024 数字通道配置
• 数据速率：250Mbps / 500Mbps
板卡与连接
• 板卡容量：单机头最高可配置 32 块板卡
• 连接方式：Direct Docking / Cable Mount，增加晶圆测试稳定性
• 针卡兼容：兼容 J Type 针卡
• 配套治具：提供配套公用 loadboard
可扩展资源
• 扩展能力：可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案
软件与开发环境
• 集成软件：ST-IDE，提供 AWG、DGT、Pattern、LA 等开发和调试工具
• 图形转换：WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern，支持友商平台 pattern 转换
量产与运维
• 工厂 GUI：专门 GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具
• 系统对接：支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
• 监控：智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
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说明
以上指标摘自加速科技官网该产品详情页；若与随机文件不一致，以随箱文件为准。
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