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高精度、易于使用的智能光谱分析仪(OSA),用于分析CWDM和DWDM网。
FTBx-5245/5255不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具,还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容FTB-1v2Pro、FTB-4Pro、LTB-8和LTB-12平台。
适用于DWDM、CWDM和DWDMoverCWDM网络的光频谱分析仪(OSA)

同厂商产品

WDM 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm,综合测试主机可同时兼容 CWDM、DWDM 等产品测试。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用,一次接线即可执行 OSA 扫描测试(可调光源扫描)与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB(焊接测试)/±0.1dB(连接头测试),PDL 不确定度 ±0.03dB,单次扫描时间 6 至 8s(AQ6370D,步距 0.1nm)。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL,FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数。
WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm,兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用,一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试),PDL 不确定度 ±0.03dB,单次扫描时间 6 至 8s。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL,FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数,自动判定结果并批量生成出货报表。
无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm,支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统,兼容扫描测试与点光源测试,支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。一次接线即可执行扫描测试 IL、Rip、ISO以及单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数。插损(IL)不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试),PDL 不确定度 ±0.03dB,单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s,自动判定结果并批量生成出货报表。
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Santec扫描测试系统 1260至1640nm WDM/AWG/PLC|光泰通信 (在产)

Santec 扫描测试系统由 santec 可调谐光源、santec 偏振控制器与 santec 功率计组成,工作波长 1260 至 1640nm。算法基于 santec 官方算法二次开发,实现多工位测试、数据分析与测报生成等功能。支持 WDM、AWG、PLC、Z-Block 等不同类型光学产品的测试,插损不确定度 ±0.1dB(连接头测试),扫描时间 10s,测试指标覆盖 IL、RIPPLE、PDL、ADJ、NADJ、CWL、BW、TDL、CROSSTALK。
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光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Santec扫描测试系统
santec 可调谐光源 + 偏振控制器 + 功率计 · 支持 WDM/AWG/PLC/Z-Block
产品简介
系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。算法基于santec官方算法,二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
Santec扫描测试系统 测试界面示意图
图:测试界面示意图
官方定位:作为光泰通信的光无源器件测试系统产品,Santec扫描测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景,覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长:1260 至 1640 nm
• 测试指标:IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK
• 插损(IL)不确定度:±0.1 dB(连接头测试)
• 测量模式:可调光源 + 高速功率计
• 扫描时间:10 s
• 可测产品类型:WDM、AWG、PLC、Z-Block
主要特点
系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。
算法基于santec官方算法,二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
支持不同类型的光学产品测试,如WDM、AWG、PLC、Z-Block等。
资源下载
• 详细指标:全部技术指标已单独整理,详见 Santec扫描测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 Santec扫描测试系统

 

 

光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Santec扫描测试系统 · 详细指标
santec 可调谐光源 + 偏振控制器 + 功率计 · 支持 WDM/AWG/PLC/Z-Block
产品简介
系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。算法基于santec官方算法,二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
官方规格表
下表按光泰通信官网 Santec扫描测试系统 产品页规格表整理;未特别说明均为典型值。
• 工作波长:1260 至 1640 nm
• 测试指标:IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK
• 插损(IL)不确定度:±0.1 dB(连接头测试)
• 测量模式:可调光源 + 高速功率计
• 扫描时间:10 s
• 可测产品类型:WDM、AWG、PLC、Z-Block
注:以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表,完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍:产品定位、核心参数与主要特点详见 Santec扫描测试系统 产品介绍页
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