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高精度、易于使用的智能光谱分析仪（OSA），用于分析CWDM和DWDM网。
FTBx-5245/5255不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具，还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容FTB-1v2Pro、FTB-4Pro、LTB-8和LTB-12平台。
适用于DWDM、CWDM和DWDMoverCWDM网络的光频谱分析仪（OSA）
同厂商产品
WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数，自动判定结果并批量生成出货报表。
Santec 扫描测试系统由 santec 可调谐光源、santec 偏振控制器与 santec 功率计组成，工作波长 1260 至 1640nm。算法基于 santec 官方算法二次开发，实现多工位测试、数据分析与测报生成等功能。支持 WDM、AWG、PLC、Z-Block 等不同类型光学产品的测试，插损不确定度 ±0.1dB（连接头测试），扫描时间 10s，测试指标覆盖 IL、RIPPLE、PDL、ADJ、NADJ、CWL、BW、TDL、CROSSTALK。
无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统，兼容扫描测试与点光源测试，支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。一次接线即可执行扫描测试 IL、Rip、ISO以及单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数。插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s，自动判定结果并批量生成出货报表。
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WDM综合测试系统 1260至1620nm CWDM/DWDM|光泰通信 (在产)
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产品描述
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系统与解决方案
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
WDM综合测试系统
CWDM/DWDM 综合测试 · OSA 扫描 + 单功率计点测 · 四工位共享
产品简介
综合测试主机可同时兼容CWDM、DWDM等产品综合测试。充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，WDM综合测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation/PDL/INRL/OUTRL/DIR 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（焊接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• PDL 不确定度：±0.03 dB
• 测量模式：OSA 扫描/单功率计点测
• 单次扫描时间：6 至 8 s（AQ6370D，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
• 单点 PDL 纯测时间：1 s
• 可测产品类型：CWDM/1×2 Coupler/2×2 Coupler
主要特点
综合测试主机可同时兼容CWDM、DWDM等产品综合测试。
充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
一次接线，可以执行OSA扫描测试（可调光源扫描）以及单点IL，PDL，INRL，OUTRL，DIR等参数。
WDM产品可分析数据计算IL，RIP，ADJ，NADJ，CWL，DCWL；FBT产品可分析数据计算IL_Min，IL_Max，WDL等参数。
自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 WDM综合测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 WDM综合测试系统
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
WDM综合测试系统 · 详细指标
CWDM/DWDM 综合测试 · OSA 扫描 + 单功率计点测 · 四工位共享
产品简介
综合测试主机可同时兼容CWDM、DWDM等产品综合测试。充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
官方规格表
下表按光泰通信官网 WDM综合测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation/PDL/INRL/OUTRL/DIR 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（焊接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• PDL 不确定度：±0.03 dB
• 测量模式：OSA 扫描/单功率计点测
• 单次扫描时间：6 至 8 s（AQ6370D，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
• 单点 PDL 纯测时间：1 s
• 可测产品类型：CWDM/1×2 Coupler/2×2 Coupler
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 WDM综合测试系统 产品介绍页
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