53G 波特率CDR 在高速光模块测试中应用用于评估高速信号波形质量的采样示波器需要与数据信号同步的时钟信号触发，在28Gbaud速率及以下速率光模块眼图测量中，虽然行业标准一直推荐采用标准时钟恢复单元（CRU）从信号中提取时钟作为采样示波器的同步触发。但是考虑到成本，大部分光模块用户还沿用原来的驱动光模块的误码仪时钟输出作为采样示波器外部触发。其原因在于低速光模块基本上都采用基于模拟电路实现的内置时钟锁定（以下简称CDR），其延时比较小，比较容易保证输入和输出信号的同步，因此采MORE
突发误码仪在OLT 模块中的应用在PON系统中，OLT与多个ONU(光网络单元)通过POS(无源光分路器)连接。作为PON的核心，OLT光模块将直接影响整个PON系统的运行在PON中，OLT下行数据是以广播连续模式发送的，ONU上行数据由多个用户终端按时分多址的方式发送的突发模式数据包组成。OLT的接收部分是突发模式工作， OLT光接收机必须能够适应不同ONU信号的不同光功率，接收机需要有一个很大的动态范围，并设定门限，以最快的速度来判决；OLT光接收机必须能够迅速恢复从不同节点传来的每个突发信号的正确时钟MORE
联讯PAM4示波器助力光通讯光通信网络及高速接口光芯片、光器件和光收发模块的研发和生产，都需要高性能采样示波器来进行精准的测量和验证。为了确保能准确测试被测的高速光电信号眼图，示波器通常需要具有更高的带宽、更低的幅度噪声以及更低的固有抖动。基于等时采样原理，采样示波器不需要昂贵复杂的超高采样率ADC，而可以采用更高转换位数的ADC，因此克服了成本高、精度差等缺点，更适合超高速光/电接口测试，并已经广泛被各标准规范认定为标准一致性测试仪器。MORE
掌握核心技术 | 联讯仪器WAT半导体参数测试系统简介WAT 测试简介WAT是Wafer出Fab厂前的最后一道测试工序。WAT测试通常都是利用晶圆切割道上专门设计的测试结构完成的（图1）。通过这些测试结构的组合和测试结果的分析，可以监控晶圆制造过程和工序偏差。图1 晶圆切割道上的测试结构WAT 测试系统如图所示，主要由测试机机柜（Cabinet），测试头（Test head）和探针台(Prober)组成.测试机机柜主要包括各种测试仪表及PC控制系统，MORE
元宇宙（Metaverse）是个啥元宇宙（Metaverse）的起源提起元宇宙这个词的起源，就不得不提到美国著名科幻作家尼尔·斯蒂芬森（Neal Stephenson），斯蒂芬森在1992年写了一本小说，叫做《雪崩》（Snow Crash），这本书主要是描述了一个平行于现实世界的网络世界，我们现实世界的所有人，在元界中都有一个网络分身，在原著中，尼哥将其命名为“元界”（Metaverse）他定义的Metaverse：一个脱胎于现实MORE
新品 ┃ 联讯仪器助力硅基光芯片测试与测量联讯仪器推出硅光晶圆测试机sCT9001，具有测试精度高、测试稳定性好以及灵活的可扩展性等优势，适用于实验室验证与量产测试。伴随着5G、大数据、区块链、云计算、物联网以及人工智能等应用市场快速发展，带来了数据流量的爆炸性增长。迫切需要通讯网络具有更高的传输速率，更高的可靠性及更高的性价比。硅光技术是基于硅和硅基衬底材料，利用现有 CMOS 工艺进行光器件开发和集成的新一代技术，结合了集成电路技术的MORE
车规SiC晶圆级可靠性测试晶圆可靠性测试在车规级SiC芯片的必要性：根据浴盆曲线理论任何电子元件在生命周期的初期会有一个高故障率，随着时间的推移故障率会明显下降到稳定期。车规SiC功率模块和普通的TO封装器件不同，普通的TO封装器件内部只有一颗DIE，如果失效只需替换单颗器件就可以了MORE
快速波长计在可调激光器校准中的应用可调谐激光器非常重要的测试就是精确波长测量和校准，随着通信通道的不断增加，从最开始的40波到目前最高达到800波，因为每个波长都需要采用波长计对可调激光器进行标定，因此快速精确波长测试比以往任何时候都更为关键。FWM8612 基于斐索干涉仪技术，结合了温度稳态控制干涉仪，多级复合干涉腔及线性阵列CCD探测器。与传统的基于迈克尔逊干涉仪的普通波长计不同，FWM8612采用全固态结构，非机械运动部件光学设计，MORE
车规级功率芯片测试的新需求汽车不同于消费级产品，会运行在户外、高温、高寒、潮湿等苛刻的环境，且设计寿命一般为 15 年或 20 万公里，迭代周期会远高于消费电子的2-3年，对环境、振动、冲击、可靠性和一致性要求也较高，因此车企通常会要求供应商使用车规级元器件，以保证车载ECU产品的质量和可靠性。车规级功率芯片对测试提出更高的需求：更高电压电流Sic需要更高的测试电流和电压测试1700V MOSFET已成熟，后续3300V的需求更高开关速度Sic/Gan需要更高的开关速度测试更高的可靠性封装前必须保障使用可靠性完全没有问题的芯片进行MORE

SiC KGD测试机
SiC 功率器件迅速发展功率半导体是电子装置电能转换与电路控制的核心，本质上，是通过利用半导体的单向导电性实现电源开关和电力转换的功能，无论是水电、核电、火电还是风电，甚至各种电池提供的化学电能，大部分均无法直接使用，需由功率半导体器件进行功率变换以后才能供设备使用。功率半导体的具体用途是变频、变相、变压、逆变、整流、增幅、开关等，相关产品具有节能的作用，被广泛应用于汽车、通信、消费电子和工
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SiC KGD测试机SiC 功率器件迅速发展功率半导体是电子装置电能转换与电路控制的核心，本质上，是通过利用半导体的单向导电性实现电源开关和电力转换的功能，无论是水电、核电、火电还是风电，甚至各种电池提供的化学电能，大部分均无法直接使用，需由功率半导体器件进行功率变换以后才能供设备使用。功率半导体的具体用途是变频、变相、变压、逆变、整流、增幅、开关等，相关产品具有节能的作用，被广泛应用于汽车、通信、消费电子和工MORE

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联讯仪器位于苏州高新区湘江路1508号，是国内领先的高端测试仪器和设备供应商。联讯仪器主要专注于光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试。可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪，通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE、激光器芯片老化系统、激光器芯片测试系统、硅光晶圆测试系统、功率芯片测试分选系统、晶圆老化系统、半导体参数测试系统和晶圆级可靠性测试系统等高端测试设备。

公司研发实力雄厚，建设有江苏省企业工程技术研究中心（省级企业技术中心），并与南京大学、上海交通大学、南京先进激光技术研究院、东南大学、宁波大学高等技术研究院长期开展产学研合作，与中国科学院微电子研究所苏州产业技术研究院共同建立联合实验室。拥有一支专注于高端光电测试测量仪器行业，具备丰富生产管理、技术研发的高素质科研团队，为公司各类测试装备的研发、生产提供技术支持。公司目前拥有国家专利209项，其中发明专利81项。

公司通过不断地技术探索创新，取得丰硕成果，获评国家创新人才推进计划科技创新创业人才、江苏省“双创计划”、苏州市姑苏创新创业领军人才、苏州市光通信产业 20 强、苏州市苏州高新区重点创业团队、苏州高新区科技创新创业领军人才、苏州高新区科技创新企业 20 强、苏州高新区瞪羚企业等资质荣誉，2022 年获评中国潜在独角兽企业，2022年国家重大科学仪器设备研发重点专项。

公司深耕测试测量领域，公司创新和新产品开发能力在国内同行业中处于领先地位，已研发出从芯片、器件到模块，覆盖光通信全产业链的一系列高端测试仪器和测试设备，多款仪器和设备填补了国内空白；产品市场反应良好，成功通过国内外知名企业的验证，并得到广泛应用，形成了高粘性的客户基础。

联讯仪器坚持以客户为中心，以员工为根本，以创新为驱动，尽精微致广大的企业文化，心怀不断填补国内高端测试仪器设备空白的使命，为达成国内领先、国际知名的高端测试仪器设备供应商的愿景而不懈奋斗！